內應力雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage是日本大型相機，視頻，軟件控制供應商，其旗下的高速/超高速攝像機業務應用非常廣泛，歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備，其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片完美結合，研制在線雙折射/殘余應力測量儀，世界上僅有KAMAKIRI可以提供，廣泛應用于光學薄膜等領域。
內應力雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage主要特點：
- STS的低配版，可升級STS 。
- 操作簡單，可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。
- 記錄雙折射的數值數據，以進行進一步詳細分析。
內應力雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage應用領域：
- 相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
- 保護薄膜（PET/PEN/PS/PI）
- 樹脂成型
- 玻璃
技術參數：
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】 |
2 | 測量波長 | 543nm（支持客制化） |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-260nm（支持客制化） |
4 | 主軸方位范圍 | 0-180° |
5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
6 | 測量尺寸 | A4(標準) |
7 | 定制選項 | 可定制大載臺 |
