顯微光譜測量系統 MicroTEQ-S1
MicroTEQ-S1顯微光譜測量系統，集成熒光、拉曼和反射光譜測量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上，實現顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測量。系統由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構成，自由靈活，幫助用戶快速對樣品微觀結構，微觀光譜信息的測試和分析；此外系統可以加裝二維電控掃描臺，通過軟件控制，實現光譜二維掃面測量功能。
應用范圍
· 微流控；
· 植物葉片研究；
· 激光材料評價；
· 生物和細胞測試；
· 光子晶體測試；
· 珠寶、古籍檢測;
· 納米材料分析；
拉曼模式
拉曼探頭可直接插入顯微光譜測試模塊中，從而快速實現拉曼光譜測量。支持光譜范圍覆蓋400-1100nm，僅需通過更換探頭和激光器，便可實現488nm、532nm、633nm、785nm激發波長的拉曼光譜測量。
搭配便攜式拉曼光譜儀
顯微光譜測試模塊也能夠適配ACCUMAN SR 系列科研級便攜拉曼，即插即用的工作模式讓您不僅可以實現便攜的拉曼光譜測量，還可以更方便地在實驗室內實現顯微拉曼光譜分析。
其他模式
· 熒光測量：顯微光譜測量模塊內部集成了熒光測試光路，通過SMA905光纖接口與熒光激光器和熒光光譜儀連接。其中連接激光器的SMA905接頭，可以改裝成為自由空間光作為輸入光源，從而得到更強的激發功率或更好的光斑質量。模塊中帶濾光片插槽，可以放置適配不同激發波長的激發濾光片和發射濾光片，實現不同激發波長的顯微熒光測量。
· 顏色和反射測量：使用光纖把鎢燈光源和顯微光譜測量模塊連接起來，共用熒光光路，即可實現顯微反射光譜測量和顯微顏色測量功能。
二維Mapping：選配二維電動平臺，使用操作軟件設置面掃描采樣， 獲取一定范圍內的逐點掃描光譜數據，可用于表征材料表面微觀結構和光譜成像。同時測試結果還可以通過圖像繪制的方式呈現出來。
光譜儀配置 | 拉曼 | 拉曼 | 熒光 | |
光譜儀 | QEPRO@532nm | QEPRO@785nm | QEPRO-FL | |
光譜范圍 | 150-4200cm-1@532nm | 150-2000cm-1@785nm | 300-1050nm | |
分辨率 | ~10cm-1@5um狹縫 | ~6cm-1@5um狹縫 | 1.5nm@5um狹縫 | |
信噪比 | 1000:1 |
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A/D | 18位 |
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探測器 | 背照減薄型面陣CCD |
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雜散光 | 0.08%@600nm |
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線性度 | >99% |
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動態范圍 | 85000:1 |
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暗噪聲 | 6RMS@18位 |
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積分時間 | 8ms-60mins |
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激光器 | LASER-532 | LASER-785 | LASER-405 | LASER-450 |
激光波長 | 532nm | 785nm | 405+/-2nm | 450+/-2nm |
激光功率 | 0-300mW可調 | 0-500mW可調 | 0-200mW可調 | 0-200mW可調 |
線寬 | <0.2nm | <0.1nm | 2nm | 2nm |
壽命 | 10000h | 10000h | 10000h | 10000h |
拉曼探頭 | RPB-532 | RPB-785 |
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OD值 | OD>6 | OD>6 |
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焦距 | 7.5mm | 7.5mm |
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激光輸入端光纖 | 100um |
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光譜收集端光纖 | 200um |
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顯微光譜測量模塊 | Micro-S1 |
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光譜范圍：400-1100nm |
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顯微鏡 | 4組平場消色差物鏡：5X,10X,20X,50X |
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5X，數值孔徑：0.15，工作距離：10.8mm |
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10X，數值孔徑：0.3，工作距離：10mm |
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20X，數值孔徑：0.45，工作距離：4mm |
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50X，數值孔徑：0.55，工作距離：7.9mm |
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100X，數值孔徑：0.8，工作距離：4mm（非標配，可選） |
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1/2”CMOS彩色CCD，2048*1536（300萬像素） |
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載物臺面積175mm×145mm，移動范圍：76mm×42mm |
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二維電控平移臺（可選配） | 一體式二維電控平移臺，含控制器； |
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行程：50mmx50mm； |
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重復定位精度：2um； |
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移動分辨率：1um； |
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