產品介紹：
1412HR-NDT是一款大面積的平板X射線探測器專門設計的用于無損檢測系統和科學成像應用，它的基本結構為一個數字化的CMOS芯片粘接到radiation-hard的光纖面板（FOP）一側，FOP另外一側直接連接一塊厚度為250 µm CsI的閃爍體。
探測器像素尺寸為50µm，分辨率為2800×2400，14bit數字化輸出，具有兩種增益模式，通過選擇像素的增益，探測器可以工作于低噪聲單發模式和高靈敏度實時模式。全分辨率讀出幀率高達29FPS，非常適用于實時監測和工業CT。可設置的感興趣區域，使得探測器可以在更高的幀率下工作，在4cm的區域下幀率高達90fps。
| 像素尺寸 | 50μm×50μm | 最小ROI尺寸 | 2 rows |
| 分辨率 | 2800×2400 | 讀出結構 | 卷簾快門 |
| 有效區域 | 14cm×12cm | 傳感器溫度范圍 | -20℃-100℃ |
| 傳感器類型 | CMOS數字傳感器，14bit | 無損讀出模式 | 可選 |
| 增益模式 | 高增益（快曝光） 低增益（低劑量） | 同步接口 | Sync in（TTL）, sync out（opto- switch）, SMB sockets |
| 閃爍體 | 250μm CsI | 觸發模式 | 連續/軟件觸發/硬件觸發 （同步輸入）/自動觸發 |
| 窗口材料 | 碳纖維，并標記有效探測區域 | 接口 | USB 3.0 C type |
| 幀率（全幀） | 29fps | 功耗 | 3.5W |
| 幀率（ROI模式） | 14μs/row | 工作溫度 | 0-60℃ |
