| 重量：1.8（kg） | 類型：超聲波探傷儀 | 型號：SBLJ-55/55B |
| 尺寸：225*170*50（mm） | 分辨率：≧40dB | 品牌：SBE |
| 測量范圍：0～10000 |
技術(shù)參數(shù)
名稱 | 技術(shù)數(shù)據(jù) |
掃描范圍（mm） | 0～10000 |
垂直線性誤差 | ≦3% |
水平線性誤差 | ≦0.1% |
探傷靈敏度余量 | ≧65dB（深200mmφ2平底孔） |
動態(tài)范圍 | ≧32dB |
分辨率 | ≧40dB |
頻率范圍（MHz） | 0.5～20 |
增益調(diào)節(jié)（dB） | 0～110 |
材料聲速（m/s） | 1000～15000 |
抑制 | 0～80% |
工作溫度（℃） | -27～70 |
外形尺寸（mm） | 225*170*50 |
重量（Kg） | 1.8 |
主要功能
l 10個獨(dú)立探傷通道（可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展）；
l 可自由存儲、回放300幅A掃波形及數(shù)據(jù)；
l DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行修正與補(bǔ)償；
l B掃描功能，清晰顯示缺陷縱截面形狀；
l 自動錄制探傷過程并可以進(jìn)行動態(tài)回放大；
l Φ值計(jì)算(大平底、平底孔、短橫孔等于Φ值自動計(jì)算)；
l 兩孔測試法自動校準(zhǔn)：探頭K值、前沿、零點(diǎn)、材料聲速；
l K值自動計(jì)算；
l 三倍近場區(qū)曲線；
l 深度補(bǔ)償，自動生成TCG曲線；
l 回波次數(shù)分析；
l 重復(fù)頻率設(shè)置。
輔助功能
l 自動增益、回波包絡(luò)、峰值記憶功能提高了探傷效率；
l 自動顯示缺陷回波位置(深度d、水平p、距離s、波幅H、當(dāng)量dB、孔徑Φ值)；
l 自由切換四種標(biāo)度方式：深度、聲程、投影、曲率；
l 角度和K值兩種輸入方式；
l 閘門聲光報警；
l 休眠和屏保；
l 中英文操作界面。
產(chǎn)品特點(diǎn)
l 與計(jì)算機(jī)通訊，實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)管理，井可導(dǎo)出Exce l格式、A4紙張的探傷報告；
l 利用PC端通訊軟件可以升級儀器系統(tǒng)的功能；
l 高性能安全環(huán)保鋰電池供電．可連續(xù)工作10小時；
l IP65標(biāo)準(zhǔn)鋁鎂合金外殼，堅(jiān)固耐用，防水防塵，抗*力；
l 26萬色真彩屏超高亮顯示，高度可調(diào)，適合強(qiáng)光、弱光的工作環(huán)境。
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