產品介紹:
根據反光特性可確定表面光澤度。即使人們通過肉眼利用物體發射的圖像清晰度進行觀察,也只是涉及光反射而已。當人們變換視角時,光澤效果也會隨之顯著變化。在檢定一個平面的光澤度時,人們用肉眼觀察到的也只是各種視角條件之下的反射光。為測定諸如“高光”、“半啞”及“啞光”等各種光澤類別,已分別相應確定各種具體的測量幾何結構,以便憑借數值表達和傳達各種光澤效果。
產品類型:
光澤測量儀 PICIGLOSS 560 MC-X:是為簡易而流動使用而專門設計的。它以標準化的測量角 60°進行測量,但也可視實際狀況適當調整。
技術參數:
560 MC-X 技術資料 |
● 尺寸 | 105(L)×31(W)×59(H)mm |
● 測量孔徑 | 10mm×24mm |
● 測量點 | 8mm×16mm |
● 測量角 | 60℃ |
● 光源 | LED |
● 電源 | 1個圓形電池 |
560 MC-X 技術資料 |
● 儲存溫度 | -10℃~+60℃ |
● 操作溫度 | +15℃~+40℃ |
● 重復性 | 0.2GU在0~150GU范圍內,0.5GU在150~1000GU范圍內 |
● 輻射干擾下的重復性 | 1GU |
● 數字高度 | 11mm |
● 符合標準 | |
EN ISO 2813, DIN 67 530, ISO 7668, ASTM D 523 |
光澤測量儀 PICIGLOSS 560 MC:雙測量角的光澤測量儀器,測量角為20°/ 60°,尺寸小,易于攜帶,可滿足大多數的測量需要,有自動校準功能。容量可允許10000次測量。
測量范圍20°模式:0 - 150和150 - 1999 GU;測量范圍60°模式:0 -150和150-1000 GU,
符合標準:
2813 、ISO 7668、ASTM D 523、EN ISO 2813、 DIN 67530