一體化暗箱設計
IVL曲線及EQE的一體化測量
● 電壓-亮度變化曲線、
● 電壓-光譜分布/色度變化曲線、
● 流-電壓變化曲線、
● 電壓-電流效率（cd/A）曲線、
● 電壓-電流密度（A/cm2）曲線、
● 電壓-外量子效率曲線、
● 亮度-時間變化曲線、
● 光譜分布/色度-時間變化曲線等的測量。
主要特點
● 光譜彩色亮度計可根據需要配置SRC系列等
● 電源可根據需要配置OLTS系列等
● 內置被測OLED專用承載裝置，方便裝夾
● 內置三維移動平臺，方便移動到目標位置進行測試
● OLED專用測度暗箱壹只，金屬框架結構，整體美觀大方
軟件功能：
1）集光譜、亮度、顏色測量功能于一體
可測量的參數包括亮度、相對光譜功率分布、色品坐標、相關色溫、顯色指數、色域覆蓋率等，涵蓋了被測對象的光度、光譜及顏色參數。
2）高性能光譜系統，測試精度更高
采用光譜法（分光法）實現亮度及顏色參數，不存在V(λ)失匹配和XYZ三刺激值探測器的匹配誤差,測量精度更高。遠方的光譜分析系統已有二十余年的生產經驗，擁有三十多項技術，設備可靠、穩定。
3）便捷的儲存和數據傳輸功能
可存儲200組測試數據，且可實現 無線WIFI數據傳輸功能，即可連接手機（安卓操作系統）或者筆記本電腦遠程控制儀器測量和數據傳輸。
