Horiba動態(tài)光散射粒徑分布測試儀 SZ100
Horiba SZ100可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定）
解析納米粒子的物質結構
主要特點：
1. 將解析納米尺寸重要的三要素（粒子直徑、Zeta電位、分子量測定）的測定囊括于一身。
2. 從PPM順序的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原狀態(tài)下取樣調查、測定。
3. 微小容量電泳電池：為獨自研發(fā)，可以測定取樣調查僅100μL的Zeta電位。
4. 適合膠質粒子、機能性納米粒子材料、高分子、膠束、核糖體、納米囊等廣泛應用
5. 取樣調查后，只要按測定開始按鈕即可，操作簡單。
Horiba SZ100粒子直徑測定
超寬動態(tài)測定有效范圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關器，實現高性能化。
在單一納米粒子專用光學系統(tǒng)中，采用低角度90度光學系統(tǒng)。
廣泛測定樣品濃度范圍
通過采用雙重光學系統(tǒng)，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。
Horiba SZ100Zeta電位測定
通過安裝標準的Horiba自主研發(fā)的微型樣品池，可以測定僅100μL的樣本。
規(guī)格：
樣式 | SZ-100 |
構成 | 分析部主體、PC、打印機 |
粒子直徑計測定原理 | 光子相關法 |
粒子直徑測定范圍 | 0.3nm~8μ |
粒子直徑測定精度 | ISO13321基礎規(guī)格 NIST可追蹤單分散聚苯乙烯 每100nm相對精度±2%（但不包括標準粒子自身個體） |
分子量測定原理 | Debye Plot法 |
分子量測定范圍 | 1 x 103 ~ 2 x 107 Da |
Zeta電位測定原理 | 電泳激光多普勒法 |
Zeta電位測定范圍 | -200~+200mV |
樣品電池溫度調節(jié) | 1.0~90.0℃ |
使用溫度/濕度 | 15~35℃ 85%RH以下（不結冰） |
電源 | AC100V 50·60Hz 150VA |
外形尺寸 | 527（W）x 385（D）x 273（H）mm |
選項 | 21CFR part11軟件、浸漬型樣品池 |
Horiba納米粒度儀SZ100廣泛應用于以下領域：
·陶瓷粒子
·金屬納米粒子
·石炭
·制藥
·病毒
·顏料、涂料
·化妝品
·聚合物
·食品
·CMP等等
