508 PV™能夠與任意開放接口的顯微鏡或者探針臺結合使用，增加光譜學、彩色成像、薄膜厚度測量和比色測量功能，非常適用于各種應用，如平板顯示器上像素的比色測定、煤鏡質體和巖相的反射率測量或光學和半導體的薄膜厚度測量，能夠很簡便快速的獲得光譜和圖像，甚至是數(shù)字視頻。選擇不同的顯微鏡配置，能夠從微光樣品中獲得吸收、透射、反射、偏光和熒光顯微光譜。CRAIC提供的顯微鏡為顯微光譜儀經(jīng)過特別設計，能夠得到很大的光譜范圍、增強的信噪比和優(yōu)秀的成像能力。
508 PV™顯微分光光度計所擁有的前沿技術，能用來升級老版的顯微分光光度計。508 PV™采用的Lightblades™分光光度計，采用TE冷卻保證長期穩(wěn)定性和低噪聲水平，科研級顯微鏡，校準的可變孔徑，通用C-mount接口以及整合光譜分析、圖像處理和設備控制的Lambdafire™控制軟件包。設備性能穩(wěn)定性，操作簡便，能實現(xiàn)多年運行。
508 PV™參數(shù)
| 光譜學類型 | 紫外-可見-近紅外吸光度，反射率，熒光，光致發(fā)光，偏振 |
| 顯微拉曼 | 可選Apollo II™ |
| 薄膜厚度 | ≥15nm |
| 微動力 | 可選 |
| 5D Mapping | 可選 |
| 微比色法 | 可選 |
| 光譜范圍 | 20-2100nm |
| 成像范圍 | 高分辨率彩色 |
| 熒光激發(fā) | 365-546nm |
| 熒光發(fā)射 | 400-900nm |
| 探測器 類型 | Lightblades™ |
| 探測器 | CCD和inGaAs陣列 |
| 探測器冷卻 | TE制冷 |
| 光譜分辨率 | 1-15nm |
| 采樣面積 | 1-10000µm2 |
