COULOSCOPE CMS STEP多層鍍鎳電位差測厚儀
電位差測試方法
1、低壓電壓的測量
在低壓線路中，欲測某兩點(diǎn)間的電壓，只要把電壓表的兩端直接接到被測的兩點(diǎn)即可。這種方法叫并聯(lián)法。即電壓表是并聯(lián)在線路中。如下圖所示。
測量時(shí)應(yīng)注意的事項(xiàng)：
首先要估計(jì)被測電壓值的范圍，選好檔位，以免損壞儀表。一般以被測量處于大量程的2/3左右處較為準(zhǔn)確。測量直流電壓應(yīng)注意極性。
測量電壓是帶電進(jìn)行的，因此要注意安全。
2、高壓的測量
由于高壓對人的威脅很大，必須使用一種專門的設(shè)備來進(jìn)行測量。這種設(shè)備叫電壓互感器，或稱儀用互感器，俗稱PT。它的構(gòu)造、工作原理與變壓器一樣，但它的特點(diǎn)是：無論一次是多高電壓，如3kV、6kV、10kV、35kV，而二次電壓都是100V，這樣就給測量高電壓提供了方便。其測量時(shí)接線如圖所示。
經(jīng)過電壓互感器測電壓(即把高電壓變成低電壓),實(shí)際電壓值應(yīng)為讀數(shù)與電壓比的乘積。例如，某電壓表經(jīng)10000/100電壓互感器測得某電路(或負(fù)載)的電壓讀數(shù)為50V。那么，其實(shí)際電壓為50*100=5000V。
COULOSCOPE CMS STEP多層鍍鎳電位差測厚儀：
在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測定變成了一個(gè)越來越重要的需求。多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層之間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護(hù)。COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
圖1：step測試
測量臺：
COULOSCOPE® CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本 4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。
測量臺V18有1個(gè)新的測量槽設(shè)計(jì)。由于在每次測量后有一個(gè)泵會自動地排出電解液至儲液箱內(nèi)，也就不再需要手動清空測量槽了，一次注滿測量槽就可以多次測量。
測量臺V24允許靈活定位小工件。
測量臺V26主要為簡單和平面形狀的物體而設(shè)計(jì)。
測量臺V27主要為在線材上測量而設(shè)計(jì)。
COULOSCOPE CMS STEP多層鍍鎳電位差測厚儀測量臺
1、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀( 庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。
2、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀準(zhǔn)確地測量范圍在0.05- 40 μm ( 0.002 - 1.6 mils )之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
3、用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍I業(yè)中,對多層鎳的測量變得越來越重要了,雙層鎳的測量已成為-種標(biāo)準(zhǔn)的操作。
