SFT9100X射線無損膜厚測試儀 產品名稱：】SFT9100 X射線熒光鍍層厚度測量儀 ^ 【產品簡介：】SFT9100 X射線熒光鍍層厚度測量儀技術參數可測元素：Ti～U X射線管：管電壓45KV，管電流1mA 檢測器：比例計數管 樣品觀察：CCD攝像機 對焦方式：激光自動對焦 測定軟件：薄膜FP法、檢量線法 準直器：2個（0.1mm, 0.025*0.3mm） 安全機能：測量室門自鎖功能 Z軸防沖撞功能儀器自診斷功能 主要特點選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。 標準配備有Windows XP中文操作界面。 采用檢量線法和FP法，兩個準直器可自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞。 可適用于各種樣品，從較厚的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等 儀器介紹日本精工電子有限公司（Seiko Instruments Inc.簡稱SII），于1978年于其他廠商，研究開發出日本*臺熒光X射線鍍層厚度測量儀－SFT155。經過二十多年的努力，現在的熒光X射線鍍層厚度測量儀能夠準確地測量微小面積的鍍層厚度。現已為*電子零部件、印刷電路板、汽車零部件等相關廠商提供了5000臺以上的測量儀，深受用戶的依賴與好評。從此，"SFT"幾乎成為鍍層厚度測量儀的代名詞。隨著市場競爭的愈加激烈及產品更新換代的加快，客戶需求也日新月異。為了迎接新世紀的挑戰，本公司在SFT9000系列的基礎上又推出更高性能的SEA5000系列儀器，更加充實了熒光X射線鍍層厚度測量儀的應用領域。＊可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。＊可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。＊薄膜FP法軟件是標準配置，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量。此外，適用于無鉛焊錫的應用。＊備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品  
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