【儀表儀表網 儀表研發】光學頻率梳具有超快的時間分辨率和超高的頻率精度，為研究和探索自然規律提供了更大的平臺，經過十多年展，已經成為精密光譜測量、基礎物理常數確定、天文測量以及量子光學操控等前沿科學領域的理想光源。
 

 

雙光學頻率梳3D快速成像實驗裝置圖
 

　　得益于光學頻率梳的迅猛發展，各個科學領域快速推進，產生了許多新的測量技術。其中，雙光學頻率梳測量技術作為一種革命性的測量手段，引起了廣泛的關注。它利用高系數下轉換因子將高頻光學頻率信息轉換到普通探測器可識別的射頻波段，提高測量精度的同時極大地縮短光譜取樣時間。它有別于傳統傅里葉變換測量技術，具有高速測量、無需復雜機械掃描、寬波段和高分辨率等特性，自2002年提出，就作為一種的測量工具被廣泛應用到精密光譜測量、距離測量、化學傳感、非線性光譜成像以及耗散波探測等領域。隨著技術的發展，與更多激光技術相結合以拓展應用領域已成為雙光學頻率梳測量技術的重要發展趨勢。
 

　　近，實驗室的李文雪課題組開展了基于光譜編碼的雙光學頻率梳3D快速成像研究，將雙光學頻率梳測量技術、一維光譜編碼技術和光學參考技術有機結合，實現了距離、樣品2D反射率圖像和3D形貌圖像的快速同時獲取。兩個激光源均為寬帶的鎖模脈沖激光器，重復頻率略有差別，分別作為信號光源和本地光源。不同于單點測距系統，利用光譜編碼技術，探測光經色散元件在空間上均勻展開，在透鏡焦面處形成一維線陣分布，各頻率成分與空間位置形成一一對應的關系。通過表面反射，樣品不同位置的反射率和深度信息能編碼到不同頻率成分的幅度與相位上。通常光學頻率梳的頻率成分可達105，利用此技術就能實現單次多點的樣品信息加載探測，有效提高成像的速度。
 

　　加載樣品信息后的光頻光譜經過雙光學頻率梳技術下轉換到射頻波段，再經過普通探測器進行探測，通過光學參考臂的對比即能反演樣品的多項信息。首先利用飛行時間法計算距離信息，測量精度在1s的平均時間下可達到159nm；其次通過不同頻率成分幅度和相位信息的反演可以分別得到樣品一維反射率曲線和深度曲線，再經過Y軸一維的機械掃描就能獲得2.28mm×1.8mm大靶面無畸變的2D反射率圖像和3D形貌圖像。對應的數據流時間僅為252ms，為快速形貌成像開辟了新的道路。相關研究成果發表在Opt. Lett.43,1606(2018)。
 

　　(原文標題：基于光譜編碼的雙光學頻率梳3D快速成像技術研究)