【儀表網 儀表新品】近日，光學器件測試系統供應商思達科技發布新一代先進高生產量Micro-LED測試系統 – 思達獨角獸Unicorn-LAIT。此系列測試系統是先進的Micro-LED集成測試系統，具有并行測試儀器，測試探針臺和探針卡，適合測試Micro-LED 和 Mini-LED，滿足了批量生產需要。
思達獨角獸Unicorn-LAIT系統是實現符合成本效益的LED批量生產的先進集成測試系統。配備的Magic-A200e探針臺，可執行大至6吋晶圓和探針卡校準的自動化探測測試；基于思達金牛座Taurus-LPX的平行測試儀，參數量測單元(PMU，Parametric Measurement Unit)能夠執行48至240個LED的并行量測。具備執行效率的系統架構，使思達獨角獸Unicorn-LAIT適合LED行業晶片制造商，和光學器件制造商的需要。
這套系統搭配電磁干擾屏蔽室，為高速的LED測試過程提供超低噪聲的環境。Magic-A200e配置的閉環XYZ平臺和具的同軸顥微鏡，確保了多站點LED步進，和高分辨率掃描，以及探測的佳精度。此外，多孔陶瓷夾具與申請的輔助夾具，易于清潔且能進行接觸檢查，可以提高LED測試性能。
Magic A-200e探針臺配置的閉環XYZ平臺和具的同軸顯微鏡
同時，思達金牛座Taurus-LPX是高生產量的參數量測單元(PMU)，它具有不同的電壓和電流范圍，每個模組配置48個通道，多可到5個模組?；贔PGA固件控制和高速ADC，金牛座Taurus-LPX能執行高速并行測試，以確保測試生產量，且有良好的準確性和可重復性。
Taurus-LPX 是高生產量的參數量測單元
思達牡羊座Aries-PCT探針卡是一款長壽命的多待測器件的Micro-LED測試探針卡，可觸點48個LED器件(多240個)，可與96個探針進行單觸式觸碰測試。此款并行器件測試探針卡，可以和CDA一同設置，用以清除探測殘留碎片和晶片顆粒。LED可配置用于不同的器件測試要求，像是VF、IF等等，而特殊的高電壓探針，可配置用于ESD器件測試。
思達科技執行長劉俊良博士表示，“思達科技自成立以來，長期關注在行業測試解決方案的研發。思達獨角獸Unicorn-LAIT測試系統是真正符合Micro-LED 和Mini-LED的測試挑戰。采用了先進的測試探針臺和并行參數量測單元，是專為LED器件設計和開發的探測測試解決方案，可幫助客戶降低測試成本，同時提供生產量的改善，以滿足新一代器件的測試挑戰。”
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