【儀表網(wǎng) 儀表標(biāo)準(zhǔn)】電子探針顯微分析是微束分析技術(shù)中一個應(yīng)用極為廣泛的領(lǐng)域，是通過各種材料或產(chǎn)品的微米尺度成份和結(jié)構(gòu)分析來進(jìn)行質(zhì)量管理和質(zhì)量檢驗的重要技術(shù)手段。電子探針顯微分析的物理基礎(chǔ)是基于高能電子與試樣相互作用激發(fā) X 射線和 X 射線光譜學(xué)的原理。
 

　　在電子探針顯微分析技術(shù)發(fā)展和應(yīng)用過程中，我國發(fā)布了《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語》GB/T 21636—2008/ISO 23833:2006。但隨著電子探針顯微分析技術(shù)的發(fā)展以及應(yīng)用需求的不斷變更，原版標(biāo)準(zhǔn)以及不再完全適用于新情況。因此，國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會決定對《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語》GB/T 21636—2008/ISO 23833:2006進(jìn)行修訂。
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)按照 GB/T 1.1-2020 《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第 1 部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》 和 GB/T20000.2-2009《標(biāo)準(zhǔn)化工作指南 第 2 部分：采用國際標(biāo)準(zhǔn)》給出的規(guī)定起草。 本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用 ISO 23833《微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術(shù)語》(英文版)第二 版。 本標(biāo)準(zhǔn)代替 GB/T 21636-2008《微束分析 電子探針顯微分析 (EPMA) 術(shù)語》。
 

　　新版標(biāo)準(zhǔn)定義了電子探針顯微分析實踐中使用的術(shù)語，包括一般概念的術(shù)語和按儀器、分析方法分類的特定概念的術(shù)語。適用于相關(guān)領(lǐng)域(SEM、AEM、EDX 等)的所有標(biāo)準(zhǔn)和實踐文件，用于定義通用術(shù)語。
 

　　按要求，新版《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語》將替代《微束分析 電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語》GB/T 21636—2008/ISO 23833:2006。
 

　　與 GB/T 21636-2008 相比，新版標(biāo)準(zhǔn)主要變化如下：
 

　　——增加了部分術(shù)語和定義；
 

　　——修改了部分術(shù)語的定義、對部分術(shù)語增加了新注解；
 

　　——刪除參考文獻(xiàn)[3]、[4]、[5]、[6]，并補充了新的參考文獻(xiàn)；
 

　　——增加了中文索引
 

　　電子探針顯微分析被廣泛應(yīng)用在高技術(shù)產(chǎn)業(yè)、基礎(chǔ)工業(yè)、農(nóng)業(yè)、冶金、地質(zhì)、生物、醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)境保護(hù)、商檢貿(mào)易乃至刑事法庭等行業(yè)中。
 

　　電子探針顯微分析是一種用于定性和定量分析固態(tài)試樣(包括金屬、陶瓷、玻璃、礦物、聚合物、粉末等)中元素成分的現(xiàn)代分析技術(shù)，具有微米級的橫向和深度分辨能力，可廣泛應(yīng)用在高技術(shù)產(chǎn)業(yè)、基礎(chǔ)工業(yè)、農(nóng)業(yè)、冶金、地質(zhì)、生物、醫(yī)藥衛(wèi)生、環(huán)境保護(hù)、商檢貿(mào)易乃至刑事法庭等行業(yè)中。統(tǒng)一電子探針顯微分析術(shù)語，不僅有利于電子探針顯微分析技術(shù)的發(fā)展，也有利于各行各業(yè)開展分析工作。（詳情詳見附件）