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儀表網(wǎng) 儀表研發(fā)】近日,中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)物理學(xué)院光電子科學(xué)與技術(shù)安徽省重點實驗室/合肥微尺度物質(zhì)科學(xué)國家研究中心教授張斗國研究組提出并實現(xiàn)了一種基于光學(xué)薄膜的平面型顯微成像元件,用作被測樣本的載波片,可在常規(guī)的明場
光學(xué)顯微鏡上實現(xiàn)暗場顯微成像和全內(nèi)反射成像,從而獲取高對比度的光學(xué)顯微圖像。研究成果以Planar photonic chips with tailored angular transmission for high-contrast-imaging devices為題,發(fā)表在Nature Communications上。
光學(xué)
顯微鏡利用光學(xué)原理,把人眼不能分辨的微小物體放大成像,進而拓寬人類觀察物質(zhì)結(jié)構(gòu)的空間尺度范圍。通用的光學(xué)顯微鏡是明視場顯微鏡(Brightfield Microscopy),它利用光線照明,樣本中各點依其光吸收的不同在明亮的背景中成像。但對于一些未經(jīng)染色處理的生物標本或其他透明樣本,由于對光線的吸收少,其明視場顯微鏡像的對比度差,難以觀測。為解決該問題,科學(xué)家們發(fā)展出暗視場顯微鏡(Darkfield Microscopy):其照明光線不直接進入成像物鏡,只允許被樣品反射和衍射的光線進入物鏡。無樣品時,視場暗黑,不可能觀察到任何物體;有樣品時,樣品的衍射光與散射光等在暗的背景中明亮可見,因此其成像對比度遠高于明場光學(xué)顯微鏡。另外一個解決方案是,利用光線全反射后在介質(zhì)另一面產(chǎn)生衰失波(又稱表面波)來照明樣品,無樣本時,衰失波光強在縱向呈指數(shù)衰減的特性使得其不會輻射到遠場,視場暗黑;有樣品時候,衰失波會被散射或衍射到遠場,從而在暗背景下形成物體的明亮像,該顯微鏡被稱為全內(nèi)反射顯微鏡(Total internal reflection microscopy, TIRM),同樣可以提高成像對比度。衰失波光強在縱向呈指數(shù)衰減的特性,只有極靠近全反射面的樣本區(qū)域會被照明,大大降低了背景光噪聲干擾觀測標本,故此項技術(shù)廣泛應(yīng)用于物質(zhì)表面或界面的動態(tài)觀察。
然而,上述兩種顯微鏡均需要復(fù)雜的光學(xué)元件,如暗場顯微鏡需要特殊的聚光鏡來實現(xiàn)照明光以大角度入射到樣品;全內(nèi)反射顯微鏡需要高折射率棱鏡或高數(shù)值孔徑顯微物鏡來產(chǎn)生光學(xué)表面波;這些元件體積大,不易集成,成像效果嚴格依賴于光路的精確調(diào)節(jié),增加了其操作復(fù)雜度。研究提出的基于光學(xué)薄膜的平面型顯微成像元件可有效彌補上述不足。主要包含三部分:中間部分是摻雜有高折射率散射納米顆粒的聚合物薄膜,利用納米顆粒的無序散射來拓展入射光束的傳播角度范圍;上部和下部是由高低折射率介質(zhì)周期性排布形成的光學(xué)薄膜,利用其來調(diào)控出射光束的角度范圍。通過光子帶隙設(shè)計,下部光學(xué)薄膜只允許垂直入射的光束透過,其他角度光束的均被抑制;上部光學(xué)薄膜在750 nm波長入射下,只有大角度的光束才能透射;在640 nm波長下任何角度的光均不能透射,只能產(chǎn)生全內(nèi)反射。
因此,在正入射下,經(jīng)過該光學(xué)薄膜器件的光束出射角度或大于一定角度(對應(yīng)750 nm波長),或在薄膜表面產(chǎn)生光學(xué)表面波(對應(yīng)640 nm 波長)。利用一塊光學(xué)薄膜器件,在常規(guī)的明場顯微鏡上,可同時實現(xiàn)暗場顯微成像與全內(nèi)反射成像。相對于明場光學(xué)顯微鏡像,其成像對比度有大幅提升。該方法不僅適用于空氣中的樣品,也適用于液體環(huán)境中生物活細胞的成像。進一步實驗結(jié)果表明,該方法可以實現(xiàn)介質(zhì)薄膜上的表面波,并可用于金屬薄膜表面等離激元,研究利用其作為照明光源,實現(xiàn)了新的表面等離激元共振顯微鏡架構(gòu),相較于目前廣泛使用的基于油浸物鏡的表面等離激元共振顯微鏡,基于光學(xué)薄膜器件的表面等離激元顯微鏡結(jié)構(gòu)簡單,成本低、操作便利,易于集成。
上述實驗結(jié)果表明,無需改變現(xiàn)有顯微鏡的主體光路架構(gòu),通過設(shè)計、制作合適的顯微鏡載玻片可以有效提升其成像對比度,拓展其成像功能。研究工作得到國家自然科學(xué)基金委員會、安徽省科技廳、合肥市科技局等的支持。相關(guān)樣品制作工藝得到中國科大微納研究與制造中心的儀器支持與技術(shù)支撐。
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