首頁 >> 公司動(dòng)態(tài) >> 光譜透過率測(cè)試儀
一、儀器介紹
光譜透過率測(cè)試儀的儀器內(nèi)置日本進(jìn)口CCD傳感器，美國信息處理芯片，保證收集光源信號(hào)的穩(wěn)定性，保證了儀器丈量的精度和重復(fù)性。可經(jīng)國家各計(jì)量院計(jì)量。
二、儀器功能
光譜透過率測(cè)驗(yàn)儀 測(cè)驗(yàn)原理是選用紫外光源，紅外光源和可見光源照耀被測(cè)通明物質(zhì)，感應(yīng)器分別勘探三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)通明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表明。用于玻璃，鍍膜資料，有機(jī)資料，通明資料，半通明資料，隔熱涂料，太陽膜等透光物質(zhì)的光學(xué)透過率測(cè)驗(yàn)。適用于單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃），貼膜玻璃，PMMA資料，ＰＣ資料、各種包裝資料等的光學(xué)功用測(cè)驗(yàn)。
三、技術(shù)特性
測(cè)驗(yàn)數(shù)據(jù)精確,測(cè)驗(yàn)時(shí)間短,
紫外線： 中心波長365nm；
紅外線： 中心波長950nm（其他波段能夠定制）。
操作簡單，丈量快速，只需將被測(cè)物放入測(cè)驗(yàn)槽，當(dāng)即一起顯現(xiàn)三項(xiàng)測(cè)驗(yàn)結(jié)果；
四、測(cè)試界面
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