箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于組件、裝備或其它產(chǎn)品。箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱為產(chǎn)品模擬帶電工作時(shí)隨溫度的變化，如在系統(tǒng)/組件工作時(shí)快速改變周圍溫度。如果系統(tǒng)/組件處在熱浸透溫度(例如安裝在發(fā)動(dòng)機(jī)上的系統(tǒng)/組件)，高溫階段附加的短暫溫度峰值要確保產(chǎn)品在這期間的基本功能。為避免系統(tǒng)/組件內(nèi)的電熱擴(kuò)散抑制系統(tǒng)/組件達(dá)到低溫的效果，故在降溫階段將產(chǎn)品關(guān)閉。失效模式為溫度變化引起的電氣故障。

　　溫度沖擊試驗(yàn)為設(shè)置一定的溫度變化速率進(jìn)行高溫與低溫之間的轉(zhuǎn)變。故在實(shí)際應(yīng)用中有兩類：一類為慢速的溫度變化試驗(yàn)，其溫度變化速率<3℃/min(一般各標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常選擇參數(shù)為1℃/min)，也既一般應(yīng)用中的溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變?cè)囼?yàn)(此三類為一種試驗(yàn));另一類為快速的溫度變化試驗(yàn)，其溫度變化速率≥3℃/min(一般各標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)常選擇參數(shù)為3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min)，也既一般應(yīng)用中的快速溫變?cè)囼?yàn)。溫度變化速率越快，考核越嚴(yán)酷。