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383次半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀/粉末電阻率測(cè)試儀 型號(hào):DP-FZ-2006
本儀器是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要,參照有關(guān)際標(biāo)準(zhǔn)的。 儀器的電流輸出為 10 μA - 100 mA ,電阻率測(cè)試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ,直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和
穩(wěn)定性大大增強(qiáng),更方便于用戶, 而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測(cè)試架可以對(duì)半導(dǎo)體粉末、分子納米粉末和固態(tài)金屬行電阻、電阻率多用途的測(cè)量。
適用于有機(jī)、無機(jī)半導(dǎo)體粉末材料(包括納米)的電阻率測(cè)量, 也可以測(cè)量固體半導(dǎo)體材料,別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測(cè)量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有精度加壓系統(tǒng), 度測(cè)量的測(cè)試臺(tái)和儀器組成.
儀器主要包括電氣箱和測(cè)試架兩部分,電氣測(cè)試部分由精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測(cè)試架為壓力傳感器,加壓機(jī)構(gòu)和粉末標(biāo)準(zhǔn)容器組成。壓力機(jī)構(gòu)采用手動(dòng)操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測(cè)量精度,穩(wěn)定性好,重復(fù)性好,使用方便等點(diǎn), 并有自校功能。
本儀器采用際通用的電流-電壓降法即四端子測(cè)量法,可以消除電與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差,還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來的誤差,克服了以往傳統(tǒng)的二端測(cè)量粉末電阻率儀器的弊病,真實(shí)、準(zhǔn)確地測(cè)量出粉末樣品的電阻率,因此重復(fù)性好。
本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的種重要工具。
參數(shù);
測(cè)量誤差 ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
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