全自動按鍵、開關【荷重-行程】曲線試驗機

MODEL: HK-ZDAJ-205S 

本機器適用于各種按鍵及開關之（荷重-行程）曲線測試，利用WINDOWS中文視窗畫面設定，操作簡單方便，且所有資料皆可儲存（試驗條件、荷重曲線圖、測試結果、檢查報表…等等)。

可同時測定動態阻抗（mΩ)

 1 機器規格

 2 結構組成

本機器采用伺服馬達傳動,可提供高精度之(荷重-行程)測定,及可得到*準確之按鍵及開關曲線試驗。通過計算機分析系統，可測量待測物之荷重及行程的相對應變化曲線，并可準確控制荷重及行程、測試速度、設定次數及暫停時間等，并且可以依據同一測試物設定群組以方便比較。試驗時，所有曲線圖形皆自動產生，可免除舊式荷重曲線儀必須移動紙筆的繁瑣操作。本機臺使用伺服電機及Windows視窗控制系統，操作簡單方便，且所有資料皆可儲存，是一部值得信賴的高性能測量儀器。

 3 測試項目

 ●硅膠按鍵（鍵盤）、金屬按鍵、輕觸開關按鍵的荷重力與位移量的二維曲線測試；

 ●導電按鍵測試過程中還可以進行接點『OFF→ON』及『ON→OFF』、動態電阻測試；

 ●PS2端口鍵盤和USB端口鍵盤整機每個按鍵接點導通及電阻參數的測試；

    大荷重值（去）、大荷重值（回）、谷點荷重值（去）

    Click Force/Rate、、峰點荷重值（回）、谷點荷重值（回）

    峰點2荷重值（去）、谷點2荷重值（去）、峰點2荷重值（回）

    谷點2荷重值（回）、行程1測荷重值（去）、行程2測荷重值（去）

    行程1測荷重值（回）、行程2測荷重值（回）、荷重1測行程值（去

    荷重2測行程值（去）、荷重1測行程值（回）、荷重2測行程值（回）

已知行程測電阻、已知荷重測電阻、導通測行程 、導通測荷重

 4 控制系統

  本機臺控制系統由工業計算機、高集成單片機及伺服系統構成。本套控制系統準確，，高集成化，僅通過一根RS232串口線即可完成上位機及下位機的通訊，達到檢測的目的，操作簡單方便，并已將微歐姆測量模塊集成其內，省去另購微歐姆測試機的不必要開支。

 5 機器特點

1. Peak Force、ReturnForce、Distance及Click率

  等皆可直接在圖上顯示數值，不須人工計算。

1. 量測曲線圖由電腦記憶，可隨時放大、縮小，

  一張A4紙可任意放置N個曲線圖。

1. 測定項目可輸入上、下限規格值，測定結果可

  自動判定OK或NO。

4.可輸入大測定行程及荷重，電腦自動控制。

5.荷重單位顯示N、Ib、gf、kgf可自由切換。

6.電腦直接列印及儲存荷重-行程曲線圖、檢查報

  表。（不需要方格紙，一般A4紙即可）

1. 測試資料儲存于硬盤（每一筆資料皆可儲存，

  不限次數）。

1. 測試條件皆由電腦畫面設定（含測試行程、速

  度、次數、空壓、暫停時間等等）

9.檢驗報表抬頭內容可隨時修改（中英文皆可）

10.檢驗報表可自動產生，不須再作輸入。      

11.檢驗報表可轉換為Excel等文書報表格式。

 6 應用領域

1、硅膠按鍵（鍵盤）、金屬按鍵、輕觸開關按鍵的荷重力與位移量的二維曲線測試；

2、導電按鍵測試過程中還可以進行接點[OFF-ON]及[ON-OFF]、動態電阻測試；（標配件）；

3、PS2端口鍵盤和USB端口鍵盤整機每個按鍵接點導通及電阻參數的測試；

 7 標準配置（配件）

 8 儀器優點

1、 有自主知識產權；

2、 曲線圖報表，文字報表可由客戶抬頭及LOGO；

3、 自動生成EXCEL，自動生成CPK；

4、 設備自帶阻抗測試，在測試力值與行程的同時檢測出導通點的力和行程

  （備注：無需另購，國內軟件和導通電阻一體生產廠家，測量數據更穩定更）

5、 荷重傳感器荷重力雙層保護，以更有效的保護易損貴重件荷重元

6、 模數信號轉換采用數據采集卡，荷重，位移模擬信號區分轉換，抗干擾性強

 9 注意事項

1. 由于荷重感應器（Load Cell）在軸向的力量（含推、拉兩個方向），超過大荷重120%時會損壞，

   操作時請特別小心。另外，橫向荷重及沖擊荷重亦需避免。

1. 本機臺對于荷重感應器有完整的保護機制，但是先決條件是荷重感應器連接線必須確實連接。另外，

   請于正常程序下使用本機臺，則即使發生高速移動而造成硬碰硬的情況，荷重感應器亦能受到*

   的保護。

1. 由于本機臺是使用Windows系統控制，為了避免多任務操作導致CPU資源被暫時占用而造成試驗結

   果的不準確或誤動作，建議于使用本機臺做試驗時請結束其它的軟件程序。而屏幕保護程序及電源管

   理部份亦請一并移除。

1. 使用本機臺及計算機控制部分建議專人專機，尤其更應注意計算機病毒的防護，以避免造成軟件

   功能的錯誤及試驗資料的損毀。