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冷熱水沖擊試驗機(jī)技術(shù)參數(shù)　　規(guī)格型號：TS-80　　內(nèi)箱尺寸：504050cm　　內(nèi)箱材質(zhì) :SUS 304# 8K鏡面不銹鋼板.

一、HAST加速老化高壓箱產(chǎn)品用途　　HAST高壓加速老化箱適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、...

HAST高溫高壓蒸煮儀用途：　　HAST高溫高壓蒸煮儀，PCT老化試驗箱，高壓加速壽命老化試驗箱歡迎您的咨詢，我們以優(yōu)惠的價格，好的服務(wù)為您提供選擇。

HAST非飽和高壓加速老化試驗箱適用于太陽能光伏、國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等...

冷沖擊試驗機(jī)產(chǎn)品用途：　　冷沖擊試驗機(jī)適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗;是各類電子、電工、...

二箱式冷熱沖擊試驗機(jī)設(shè)備特點　　新一代外觀設(shè)計，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn)，技術(shù)指標(biāo)更穩(wěn)定，運行更可靠，維護(hù)更方便，備有萬向

一、PCT高壓加速老化試驗箱用途：　　廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐厭性,氣密性。

PCT高壓加速老化試驗箱【儀器用途】　　PCT高壓加速老化試驗箱適用于國防,航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、...

PCT高壓加速壽命老化箱用途：　　半導(dǎo)體的PCT測試:主要是測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?待測品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會...

溫度沖擊試驗箱用途：　　溫度沖擊試驗箱適用于電工、電子產(chǎn)品、航天產(chǎn)品、汽車零部件、各種電子元氣件在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下，檢測其各性能指標(biāo)。

三箱式冷熱沖擊箱主要技術(shù)參數(shù):　　三箱式冷熱沖擊箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1...

三箱式冷熱沖擊機(jī)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：　　1、本類試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)GB10589《低溫試驗箱技術(shù)條件》和GB11158《高溫試驗箱技術(shù)條件》，帶濕度試驗箱滿足GB10586《...

冷熱沖擊試驗箱用途：　　重慶瞬間溫度變化試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)...

冷熱沖擊試驗機(jī)產(chǎn)品規(guī)格:　　1.內(nèi)部尺寸：40×50×40cm　　2.溫度范圍：-70℃～100℃(+180℃)　　3.溫濕度解析精度: 0.1℃/0.01℃

冷熱沖擊試驗箱用途　　冷熱沖擊試驗箱采用*人機(jī)介面溫濕度控制器，性能可靠，操作簡便，控制技術(shù)達(dá)到目前水平，性價比明顯優(yōu)于同類進(jìn)口設(shè)備，采用BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方...

一、HAST高壓加速老化試驗機(jī)用途：　　廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐厭性,氣密性。

PCT高壓加速老化試驗機(jī)性能：　　1.設(shè)定溫度:+100℃～+135℃(飽和蒸氣溫度)　　2.濕度範(fàn)圍:蒸氣濕度　　3.濕度控制穩(wěn)定度：±1%RH...

PCT加速老化試驗箱：國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之...

冷熱沖擊試驗箱用途　　冷熱沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、工業(yè)、BGA、PCB基扳、...

HAST高加速壽命試驗機(jī)【簡單介紹】　　HAST高加速壽命試驗機(jī) 用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么...