HAST高壓加速壽命試驗箱應用范圍：

　　HAST高壓加速壽命試驗箱主要 是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之 斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

　　HAST高壓加速壽命試驗箱設備特點：

　　1. 圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現(xiàn)象.

　　2. 圓幅內(nèi)膽,不銹鋼圓弧型內(nèi)膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊.

　　3. 水管采用銅管+喇叭口，精密設計,氣密性良好,耗水量少。

　　4. 型packing ,材質(zhì)：耐高溫夕膠發(fā)泡成型，內(nèi)箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命.

　　6. 實驗開始前可將原來內(nèi)箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing<1micom.以確保箱內(nèi)之純凈度.

　　7. 臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障提示.

　　8. 機臺具有定時干燥功能 , 使試驗產(chǎn)品處于干燥狀態(tài).

　　9. 水箱采用16L大容量水箱，置于箱體底部，采用自動補水功能;試驗不終斷 ; 試驗結束時設備會自動瀉除壓力.

　　HAST高壓加速壽命試驗箱滿足標準：

　　1.IEC60068-2-66 2.JESD22-A102-B 3.EIAJED4701 4.EIA/JESD22

　　HAST高壓加速壽命試驗箱應用范圍：

　　型號 PCT-250 PCT-350 PCT-450 PCT-550 PCT-250 M PCT-350 M

　　控制器 微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器

　　分辨率 溫度：0.1壓力：指針式0.1

　　控制穩(wěn)定度 溫度：±0.5℃，濕度：

　　內(nèi)箱材質(zhì) SUS316#不銹鋼

　　外箱材質(zhì) 鋼板烤漆或不銹鋼(依客戶選擇)

　　尺寸(cm) 內(nèi)箱 Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45

　　外箱 W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135 W86×H135×D145 W56×H65×D105 W66×H105×D125

　　溫度范圍 110℃～132℃ 110℃～147℃

　　濕度范圍 RH飽和蒸氣

　　壓力范圍 表壓力+0.2～2.0kg/cm2 表壓力+0.2～3.5kg/cm2

　　加壓時間 大約45分鐘 大約55分鐘

　　循環(huán)方式 水蒸氣自然對流循環(huán)

　　安全保護 感溫器檢測保護，階段高溫保護，階段高壓保護，箱門壓力限制，水箱缺水報警斷電，溫度加熱器保護，濕度加濕器保護，二階段高溫保護，二階段高壓保護，三階段緊急泄壓保護，，手動泄壓保護，自動泄壓等。

　　HAST高壓加速壽命試驗箱特點優(yōu)勢：

　　1. 圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現(xiàn)象.

　　2. 圓幅內(nèi)膽,不銹鋼圓弧型內(nèi)膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊.

　　3. 水管采用銅管+喇叭口，精密設計,氣密性良好,耗水量少。

　　4. 型packing ,材質(zhì)：耐高溫夕膠發(fā)泡成型，內(nèi)箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命.

　　6. 實驗開始前可將原來內(nèi)箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing<1micom.以確保箱內(nèi)之純凈度.

　　7. 臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障提示.

　　8. 機臺具有定時干燥功能 , 使試驗產(chǎn)品處于干燥狀態(tài).

　　9. 水箱采用16L大容量水箱，置于箱體底部，采用自動補水功能;試驗不終斷 ; 試驗結束時設備會自動瀉除壓力.

　　HAST高壓加速壽命試驗箱哪個好?艾思荔是您選的，不僅擁有高質(zhì)量的產(chǎn)品，更有完善的售后服務，讓您買的放心，用的滿意。