2017年3月29日，的測量解決方案提供商——泰克科技公司為DSA8300采樣示波器推出光模塊，其不僅擁有業(yè)內(nèi)zui高的模板測試靈敏度和zui低的噪聲，還提供了許多新功能，提高了生產(chǎn)容量，改善了當(dāng)*G設(shè)計投產(chǎn)時的良品率。
　　

　　泰克科技還為其400G測試解決方案推出了多種增強(qiáng)功能，包括IEEE以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)推動的發(fā)射機(jī)和色散眼圖閉合(TDECQ) PAM4及光測試相關(guān)配套測量。
　　
　　在美國加里福尼亞州洛杉磯2017年3月23日舉辦的OFC光網(wǎng)絡(luò)和通信展覽會上，泰克科技演示了模塊和功能，以及泰克為100G/400G光特性分析和驗證提供的解決方案。
　　
　　“隨著100G設(shè)計投產(chǎn)，制造良品率變得至關(guān)重要。”泰克科技公司高性能示波器總Brian Reich說，“我們zui低的固有噪聲為測試結(jié)果提供了更多信心，推動著光器件和互連產(chǎn)品不斷改善制造良品率。同時，我們通過提供完善的工具和功能，深入分析及調(diào)試新一代數(shù)據(jù)傳輸技術(shù)，繼續(xù)400G發(fā)展。”
　　
　　當(dāng)安裝在DSA8300采樣示波器中時，80C17和80C18光模塊提供了-14 dBm的模板測試靈敏度，超過了28 GBd PAM4標(biāo)準(zhǔn)要求，同時提供3.9 μW的業(yè)內(nèi)的噪聲性能，并支持廣泛的波長。通過兩通道80C18，光制造測試工程師可以使吞吐量和容量翻一番。如果器件發(fā)生故障，泰克提供了多種分析工具，可以分解噪聲和抖動的信號成分，幫助工程師了解底層問題。