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泰克為DSA8300采樣示波器推出光模塊
閱讀:4970發布時間:2017-6-26
日前,泰克科技公司為DSA8300采樣示波器推出光模塊,其不僅擁有業內zui高的模板測試靈敏度和zui低的噪聲,還提供了許多新功能,提高了生產容量,改善了當*G設計投產時的良品率。泰克科技還為其400G測試解決方案推出了多種增強功能,包括IEEE以太網標準推動的發射機和色散眼圖閉合(TDECQ) PAM4及光測試相關配套測量。
在美國加里福尼亞州洛杉磯2017年3月23日舉辦的OFC光網絡和通信展覽會上,泰克科技演示了模塊和功能,以及泰克為100G/400G光特性分析和驗證提供的解決方案。
“隨著100G設計投產,制造良品率變得至關重要。”泰克科技公司高性能示波器總Brian Reich說,“我們zui低的固有噪聲為測試結果提供了更多信心,推動著光器件和互連產品不斷改善制造良品率。同時,我們通過提供完善的工具和功能,深入分析及調試新一代數據傳輸技術,繼續400G發展。”
當安裝在DSA8300采樣示波器中時,80C17和80C18光模塊提供了-14 dBm的模板測試靈敏度,超過了28 GBd PAM4標準要求,同時提供3.9 μW的業內的噪聲性能,并支持廣泛的波長。通過兩通道80C18,光制造測試工程師可以使吞吐量和容量翻一番。如果器件發生故障,泰克提供了多種分析工具,可以分解噪聲和抖動的信號成分,幫助工程師了解底層問題。
泰克科技(中國)有限公司
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