HP4191A射頻阻抗分析儀
本檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標(biāo)準(zhǔn)件），規(guī)定了射頻（習(xí)慣上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。

詳細介紹

HP4191A射頻阻抗分析儀

產(chǎn)品簡介

　　主要用途
　　測試材料的阻抗Z，導(dǎo)納Y，L，電阻R，介電損耗D，品質(zhì)因數(shù)
　　射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)
　　VerificationSchemeofRF
　　ImpedanceMeasuringInstruments　JJG2011-87
　　代替：高頻阻抗量值傳遞系統(tǒng)
　　射頻阻抗計量器具檢定系統(tǒng)
　　本檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標(biāo)準(zhǔn)件），規(guī)定了射頻（習(xí)慣上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。
　　一、計量基準(zhǔn)器具
　　1、高頻集總參數(shù)阻抗的國家計量基準(zhǔn)器具是指用于復(fù)現(xiàn)和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括電介質(zhì)材料的復(fù)數(shù)介電常數(shù)和的復(fù)數(shù)導(dǎo)磁率）的計量設(shè)備和量具。
　　2、射（高）頻集總參數(shù)阻抗計量基準(zhǔn)器具包括：
　　2.1空氣介質(zhì)同軸線阻抗基準(zhǔn)，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性論計算求得。它用以校準(zhǔn)按反射系數(shù)測量原理設(shè)計的高頻阻抗精密測量裝置。空氣介質(zhì)同軸線也是微波阻抗國家基準(zhǔn)，本檢定系統(tǒng)移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統(tǒng)一。在（1-1000）MHz頻段，其技術(shù)指標(biāo)為：
　　反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±0.002；相角：±180°±0.5°。
　　2.2高頻阻高頻阻抗精密測量裝置，它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻抗分析儀，經(jīng)過準(zhǔn)確度論證分析，保證高頻集總參數(shù)阻抗量的以下計量工作性能：
　　頻率：（1-1000）MHz
　　反射系數(shù)模值｜г｜：1.000±（0.003-0.007）
　　相角θ：±180°±0.5°；
　　阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）％
　　電容C：10pF-100nF±（0.2-10）％；
　　電感L：10nH-100μH±（0.2-10）％
　　損耗：tgδ（D）0.001-0.5±＜（0.002-0.05）
　　二、高頻集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)
　　3、集總參數(shù)阻抗標(biāo)準(zhǔn)包括：
　　3.1高頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)件50Ω，0Ω，0S。它們由國家基準(zhǔn)通過直接比對法傳遞量值，技術(shù)特性如下：
　　50Ω：｜г｜≤0.0025；0Ω：殘余阻抗小于2mΩ；0S：邊緣電容值0.080pF。
　　這些標(biāo)準(zhǔn)件用以校準(zhǔn)按電壓電流比原理設(shè)計的高頻阻抗分析儀、高頻LCR表等通用高頻阻抗（校準(zhǔn)中還需使用直流以和低頻阻抗標(biāo)準(zhǔn)伯）。并由50Ω阻抗件組成模擬損耗件校準(zhǔn)Q值、tgδ值等標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。
　　3.2高頻、低頻阻抗分析儀。這些是市售商品高準(zhǔn)確度阻抗器，也用作計量標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，用以定標(biāo)低準(zhǔn)確度的阻抗標(biāo)準(zhǔn)量具。其技術(shù)指標(biāo)為：
　　頻率：20kHz-1000MHz；
　　阻抗｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20％）；
　　電容C：10pF-100nF±（0.5-20）％；
　　電感L：10nH-1.00μH±（0.5-20）％