在電阻測試中我們常采用恒流測壓方法、惠斯通電橋（單臂電橋）和雙臂電橋方法。
恒流測壓方法

圖１中， r是引線電阻與接觸電阻之和；I是程控恒流電流源； V是具有很高輸入阻抗的電壓表，它對恒流電流源不產(chǎn)生分流作用。施加已知的恒定電流I，流過被測電阻R t，然后測量出電阻兩端的電壓V，當R t＞＞ r時，根據(jù)公式Rt＝V/ I就可算出電阻值。
惠斯通電橋方法

圖2中，V1，V 2是程控恒電壓源；Rstd是標準電阻； Rt是被測電阻；I是電流表。當電橋平衡即流過電流表I的電流為零時，有V1 /V2=Rstd/R t，由此可計算出Rt＝R std×V2/V1 。
雙臂電橋方法

單臂電橋測量范圍為10～106 Ω，單電橋測幾歐姆的低電阻時，引線電阻和接觸電阻已經(jīng)不可忽略。而雙臂電橋適用于10-6～102 Ω電阻的測量，它是改進的單臂電橋，如圖3。將電橋中的中低電阻 Rt和R改成四端接法，并在橋路中增加兩個高阻電阻R3和R4，則大大降低了引線電阻和接觸電阻的影響。詳細介紹參見文獻［1］。

本文主要介紹恒流測壓法。當被測電阻阻值遠遠大于測試引線電阻和測試探針與測試點的接觸電阻時，采用圖1所示的兩線測試的基本方法是可行的，并且也可以獲得相當高的測試。

電阻隔離測試技術(shù)

對于施加的恒定激勵電流能全部流過被測電阻的情況下，使用上述方法測試是很簡便的，比如測試單個電阻。但我們還常常遇到被測電阻與一個電阻網(wǎng)絡并聯(lián)的情況，這個電阻網(wǎng)絡會對施加電流有分流作用，導致無法采用上述方法進行測試，在這種情況下我們必須采用電阻隔離測試技術(shù)，其測試電路原理如圖5。

Rt是被測電阻， R1，R2串聯(lián)后再與 Rt并聯(lián)；A1，A2是高輸入阻抗、高    運算放大器；DVA是高輸入阻抗、高    差分電壓的程控放大倍數(shù)儀用放大器，它的輸出與數(shù)模轉(zhuǎn)換ADC相連；DAC是電流輸出型數(shù)模轉(zhuǎn)換器，DAC與A1構(gòu)成程控恒流源；根據(jù)計算機控制，DAC輸出不同的恒定電流If。

A2構(gòu)成電壓跟隨電路使Vc =Ｖb，從而I1=0。因此計算機通過16位電流輸出型DAC設(shè)定If 就控制了流過被測電阻Rt的電流I t，再通過由DVA和ADC構(gòu)成的電壓檢測電路測試出 Rt兩端的電壓就可算出Rt 的阻值。

 極小值電阻的測量技術(shù)

對于極小阻值范圍的電阻測量可以采用圖7所示電路完成，它可以測量10～ 80mΩ的電阻。通過差分運算放大電路，把被測電阻產(chǎn)生的微弱電壓信號放大100倍，因此實際電阻值是測量值要除以100。圖中運放UI采用低噪聲、高速、精密運放，如OP-37EJ，AD645或MAX400。和高電位施加線（HF）串聯(lián)的電阻R1是用來匹配電流施加模塊的    輸出負載，R2到R5采用高    高穩(wěn)定性的電阻來保證差放電路增益的穩(wěn)定，這決定了測量的    和重復性。為了保證    ，對運放的電源電壓要求很高，電路的安裝位置要盡可能靠近被測電阻，所有探頭要盡可能短，C2，C3要盡可能靠近運放。

 結(jié)束語

由于自動測試中要不斷地改變被測電阻，同時又要根據(jù)情況靈活地選擇測試方法和連接方式 ，因此實際生產(chǎn)中是使用探針卡將被測電路與系統(tǒng)相連，通過繼電器或FET開關(guān)組成的開關(guān)矩陳由軟件適當切換來提高測試速度和生產(chǎn)效率。同時在不同的測量中探針采用不同的接法，如直線四探針法和方形四探針法，可克服各種因素的影響，優(yōu)化測量結(jié)果。如上所述，只要我們結(jié)合被測電阻的具體情況，靈活合理地應用上面介紹的測試技術(shù)，就可以得到滿意的測試結(jié)果。制造出高質(zhì)量的厚、薄膜集成電路和片式電阻來。