XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比好、適用性不錯的機型。

　　為什么選擇XU-100鍍層測厚儀品牌?

　　1.下照式設(shè)計

　　可以快速方便地定位對焦樣品。

　　2.高精密微型移動滑軌

　　快速精準定位樣品。

　　3.微焦X射線裝置

　　最小檢測面積可達0.2mm2的樣品，可進行各類電鍍層膜厚檢測。

　　高效率正比接收器即使測試0.2mm2的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

　　4.變焦裝置算法

　　可對各種異形凹槽進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm。

　　5.*的EFP算法

　　多層多元素，包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測，都可以快、準、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析。

　　XU-100鍍層測厚儀應(yīng)用范圍：

　　儀器既可以方便無損地測量導電金屬上的非導電涂層的厚度，比如鋁、銅、鋼上面的防腐層的厚度，也可以導電磁性材料上的非導電涂層的厚度，比如鐵上面的油漆層的厚度。儀器針對大工件上面的超厚防腐涂層的測量作用不錯。

　　鍍層測厚儀該儀器廣泛應(yīng)用于：電鍍層分析、緊固件行業(yè)、五金行業(yè)、汽車零部件、配飾厚度分析、電子元器件。

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