激光粒度儀的幾個關鍵考驗點：

 

    （1）激光器選擇：激光粒度儀的重要部件之一，主要有HE-NE激光器和半導體激光器兩種，其中HE-NE激光器的各項性能均優于半導體激光器，且成本也遠高于半導體激光器，半導體激光器單向性差的問題，對測試結果的穩定性影響很大。因此推薦用戶選擇HE-NE激光器。

 

    （2）光電探測器：國內產品采用的光電探測器的種類大同小異，一般就是半環式、點陣式等，半環式的優勢是能夠以較少的通道數達到很高的探測精度。而且在出現斷環時可以臨時采取并環操作，對測試結果影響很小。點陣式屬于比較老的探測器類型，現在用的比較少。

 

    （3）儀器結構問題：主要分為整體式和分體式，整體式就是將分散系統和測試系統整合為一體，協同操作，分體式則是分散系統獨立于測試系統，測試者需要先操作分散系統，將樣品分散好再將分散好的樣品通過管道導入測試系統進行測試。這樣的缺點是協同操作性不好，比較重的顆粒容易在管道中沉淀，清洗不便且對測試結果有一定影響，現在整體式結構的儀器是發展方向，進口產品大都采用整體式結構，國內的產品也慢慢在向整體式結構發展。

 

    （4）光路設計問題：光路設計是激光粒度儀研制的基礎，進口產品的優勢不但在制造工藝上，光路的設計水平也是技術先進的標志，國內的廠家現在大都采用簡單的平行光路設計，據了解濟南微納公司推出的產品中采用了匯聚光傅立葉變換光路。這種光路是一種比較先進的光路，能夠獲得更寬的散射角，在提高測試精度方面有一定的優勢。四，需要了解的顆粒測試基礎知識實際測試中，準確性是相對的，重復性是絕對的：在實際顆粒測試中，激光粒度儀測試的結果我們無法評價其“準確”或“不準確”，因為樣品都是不規則形狀體，與其對比的測試結果也只是另外一種儀器測試所得。

 

    因此，我們只能說A儀器的測試結果相對于B儀器來說是準確的，而不能說A儀器測試結果就是準確或不準確，很多測試人員總是喜歡與馬爾文的來對比，只要符合就是準確，不符合就是不準確，這其實是個誤區。考量儀器好壞的標準其實是重復性，對某一種樣品分別取樣測試，如果前一次和后一次測試結果差異小那說明儀器是穩定的，重復性好的，如果差異大那就說明這個儀器的測試效果不好。