激光粒度儀之光學系統的特點
2021-01-12標簽：激光粒度儀
“特定尺寸”被確定為用于測量的光波長的倍數，通常約為20微米。大于這個尺寸的粒子通過衍射而不是折射傳遞有用的尺寸信息。這意味著測量不會從使用折射率準確地解釋折射光對于小于20微米的顆粒，折射光對于精確計算顆粒尺寸變得越來越重要。
散射光相對低強度和廣角對于這些較小的粒子。折射率的使用和米氏散射理論直接影響此尺寸范圍內的精度。所有HORIBA激光粒度儀默認使用Mie散射解決方案，并允許用戶輸入自定義折射率值。
激光粒度儀的特點：光學系統
激光衍射粒度分析的基本工作流程分為兩部分：測量散射光的角度和強度將散射數據轉換為粒度分布測量質量與分析儀本身有關：部件質量、工程改進和反映基本原理的基本設計。
核心技術都是成熟的，但正如許多東西一樣，更高的質量導致了卓越的性能。典型的激光衍射光學系統包括：兩個不同波長的光源80個光電探測器，角度范圍約為0-170度高質量的鏡片和鏡片LA-960粒度分析儀代表第十代HORIBA公司設計的激光衍射儀。
激光粒度儀為了提高性能和可用性，對基本設計進行了數百次改進。這些改進包括：免維護、無塵密封光學工作臺最大的穩定性和對準無柱，鑄鋁安裝傾斜測量單元降低雜散光噪聲超長壽命固體光源和探測器獲得最佳的散射光數據是任何可靠尺寸測量的基礎。“原始”散射光數據然后被傳遞到計算算法，在那里它將被轉換成一個粒度分布。
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