摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷蔡司 Carl Zeiss電子顯微鏡-Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350關鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷蔡司Carl Zeiss電子顯微鏡-Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350關鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷蔡司Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350關鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

摘要 儀器組成1.顯微鏡主體：1臺2.三目鏡筒：1只3.10X目鏡：1對4.無限遠金相物鏡：5X、10X、20X、50X：各1只5.0.5倍適配鏡：1只6.YH-3001攝像機：1套

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摘要Veritas系列保持EM科特（EmCrafts）電子顯微鏡的高性能高效率，大樣品倉內含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。EM科特（EmCrafts）Veritas系列產品技術亮點：l大尺寸樣品分析 Veritas系列可以分析常規SEM無法分析的大尺寸樣...

摘要Genesis系列是一種高性能高分辨率W-SEM。新穎的設計中集成高性能和多功能性，擁有EM科特（EmCrafts）真空系統可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內）。EM科特（EmCrafts）Genesis-2020/2120以相同的緊湊型設計提供5軸電動共心樣品臺。直...

摘要EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區別與傳統掃描電鏡的笨重機身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務指南任意移動SEM設備。 EM科特（EmCrafts）Cube系列提供5軸共心樣品臺（電動或手動）的...

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摘要Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡高級檢測技術是 FEI Scios 的核心技術。透鏡內 FEI Trinity™ 檢測技術能夠同時收集所有信號，既節省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數據。創新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效...

摘要Apreo場發射掃描電子顯微鏡復合透鏡結合了靜電和磁浸沒技術，可產生前的高分辨率和材料 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，而不會降低磁性樣品性能。傳統的高分辨率 SEM 透鏡技術分為兩類：磁浸沒或靜電。FEI 將兩種技術結合到一個儀器中。這樣做所產生的...

摘要Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡 一直以來，Helios NanoLab 都綜合采用了 FEI 的電子和離子光學系統、配件和軟件，能夠為納米量級研究提供強大的解決方案。對于從事納米技術前沿研究的科學家，Helios NanoLab 能讓他們拓...

摘要 *的光學系統、精密的機械機構。長工作距離，景深大、分辨率高。滿足現代電子設備、半導體、激光、LED、LCD、工業在線檢測和生物等領域的數碼成像觀察、檢驗和測量。

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss顯微鏡 Axioscope 5系列產品型號：Axioscope 5

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss顯微鏡Axioscope 5系列產品型號：Axioscope 5

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss顯微鏡 Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350關鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss顯微鏡Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷Carl Zeiss 電子顯微鏡Crossbeam 350產品型號：Crossbeam 350

摘要 Cube II臺式掃描電鏡，是一款桌面型掃描電鏡，非常輕便、小巧，適用于高校、科研院所，及企業研發中心，可提供各種行業與領域樣品表面的微結構和表面形貌的微觀觀察。可內置EDS，結構緊湊，可方便用戶對樣品微區成分進行分析。

摘要 EM-AFM 納米操作系統提供了在SEM電鏡中原子力顯微鏡成像和定量測量納米力的能力。它可將SEM和AFM這兩種顯微技術進行聯用，提供高速高分辨率的3D形貌成像，以及微納米和亞納米尺度納牛力相互作用的實時觀測。

摘要 用于數字化檢查、觀察和測量的模塊化數字顯微鏡系統 DMS1000.光學系統提供高達 300 倍的放大倍率，從微小的細節到圖像全局都一覽無遺。快速的內置 HDMI 相機可拍攝高達每秒 30 幀的全高清實時圖像，分辨率達 5 百萬像素。

摘要 場發射掃描電子顯微鏡在結構研究中, 大量的樣品需要在高放大倍數、更多細節的水平上進行觀察和分析。同時, 隨著樣品種類的不斷增多（如: 低原子序數材料, 不導電材料等）, 需要掃描電子顯微鏡提供優異的低加速電壓性能, 以獲得高質量的真實表面圖像。

摘要 本原掃描探針顯微鏡（SPM）高精度計量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于計量機構Physikalisch-Technische Bundesanstalt （PTB）的標準樣品進行校準

摘要 TEM 日本200kV場發射透射電子顯微鏡儀器簡介：JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。

摘要徠卡Leica DMS300數碼視頻顯微鏡Leica DMS300是一款完整的數字顯微鏡系統，采用了HDMI的顯示器，而不是目鏡。徠卡的高品質8:1變焦光學器件與一個2.5MP攝像頭相結合，提供達30fps的全高清實時圖像。Leica DMS300作為一個獨立的系統，...

摘要徠卡Leica DMS1000B數碼視頻顯微鏡Leica DMS1000 B包括結合了攝像頭、透射光底座（分別為TL3000 ST和TL5000 Ergo）和所有其它附件的數字顯微鏡，使DMS1000 B成為研究人員的創造性解決方案。高品質的光學系統提供了高達300倍...

摘要透射電鏡H-9500產品介紹：H-9500是一款300kV原位環境透射電鏡，其大的特點是可以進行原位實時觀察。相比于普通的透射電鏡，H-9500可以實現樣品在不同條件（如氣體、加熱等）刺激下的原位觀察，同時保證高分辨率。同樣，相比于樣品桿原位觀察的透射電鏡，H-950...

摘要 透射電鏡HF-3300是一款300kV的冷場發射透射電鏡，日立公司久負盛名的冷場發射電子槍和300kV高壓系統相結合保證了HF-3300具有超高分辨成像和高靈敏分析能力。HF-3300具有*的雙重雙棱鏡全息攝影功能。

摘要透射電鏡HD-2700產品介紹:HD-2700是一款200kV的場發射球差校正掃描透射電鏡。相比于普通的透射電鏡，HD-2700采用球差校正技術，大大減小了透鏡球差對分辨率的影響，從而可以實現超高分辨率的觀察。同時，HD-2700是目前少數以掃描透射（STEM）功能為...

摘要透射電鏡HF5000產品介紹：HF5000是日立的200kV球差校正場發射透射電鏡，采用冷場發射電子槍和全自動化的球差校正技術，在保證超高分辨率的同時大大簡化操作，實現高分辨觀察與易用性的*結合。HF5000同樣具有超高空間分辨率的分析能力，配合電子能量損失譜（EEL...

摘要透射電鏡HT7830產品介紹：HT7830是日立120kV透射電鏡的高分辨版本，主要針對軟材料領域，保留了HT7800標準版的CMOS熒光相機、雙隙物鏡、全數字化、大集成等優點，同時專門針對材料類樣品升級了物鏡極靴，采用高亮度的LaB6燈絲，可實現0.19nm（on-...

摘要透射電鏡HT7800產品簡介：HT7800作為的日立120kV透射電鏡的機型，是日立*公司為生物、制藥、納米技術和軟材料等領域而開發的進的透射電子顯微鏡。HT7800具有優異的操作性與多樣的自動功能，通過將CCD相機與顯微鏡主機的操作相統一，可以在顯示器畫面上輕松、簡...

摘要透射電鏡HT782機型日立推出120kV，該機型繼承了標準版HT7800高速CMOS熒光屏相機設計、全數字化、大集成等優點和創新點，仍然采用第二代雙隙物鏡的設計，設計使用高分辨物鏡，標配LaB6燈絲，性能實現突破性提升。此機型分辨率可保證0.144nm（晶格像），廣泛...

摘要 掃描電子顯微鏡制造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。

摘要透射電子顯微鏡可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2nm的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發明了以電子束為光源的，電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波...

摘要 JEOL掃描電子顯微鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。

摘要 掃描電子顯微鏡表面分析儀主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態.，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像

摘要 XTJ-4600系列兩檔體視顯微鏡XTJ-4612、XTJ-4613、XTJ-4624產，XTJ系列有級體視顯微鏡采用傾斜光路變倍系統，成像清晰、視野開闊，工作距離長，適用于各種工作環境，廣泛應用于電子元器件裝配、學校、科研院所以及生物解剖實驗。

摘要CHI900D/920D掃描電化學顯微鏡電化學掃描顯微鏡（SECM）發明于1989年并獲得美國。CH Instruments與University of Taxes at Austin的化學系的Allen J. Bard教授合作實現了電化學掃描顯微鏡的儀器商品化，從而...