BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統
關鍵詞：熱電，賽貝克系數，電阻率
BKTEM-B1型薄膜熱電參數測試系統薄膜熱電參數測試系統MRS-3RT專門針對常溫下薄膜材料的澤貝克系數和電阻率的測量儀器，采用動態法和四線法保證測試結果的準確和穩定，擁有寬廣的測試范圍和便捷的操作界面。
產品特點
● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量。
● 測試環境溫度范圍達到81K~700K。
● 采用動態法測 量Seebeck系數，避免了靜態測量在溫差測量上的系統誤差，測量更準確。
● 采用四線法測量電阻率。
● 卡箍設計，方便進行樣品更換，提高效率。
● 軟件操作簡單，智能化可實現全自動模式。
產品技術參數
型號 | BKTEM-B1 |
溫度范圍 | RT |
測試氣氛 | 空氣 |
測量范圍 | 賽貝克系數：|S| ≥ 8μV/K 電阻率：0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m |
分辨率 | 澤貝克系數：0.05μV/K 電阻率：0.05μΩ•m |
相對誤差 | 賽貝克系數 ≤ ±7% 電阻率 ≤ ±10% |
樣品尺寸 | 長度:10mm~18mm；寬度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm |
主機尺寸 | 170x250x220（mm） |
重量 | 3.5kg |
