B1506A半導(dǎo)體測(cè)試儀主要特性與技術(shù)指標(biāo)

* 高達(dá) 3 kV/1500 A 的運(yùn)行范圍

*　-50 °C 至 +250 °C 的全自動(dòng)快速熱測(cè)試

* 自動(dòng)創(chuàng)建功率器件（半導(dǎo)體和元器件）技術(shù)資料

* 自動(dòng)記錄功能可以避免數(shù)據(jù)丟失

B1506A半導(dǎo)體測(cè)試儀? IV 套件特性

* 快速的全自動(dòng)封裝和晶圓上器件 IV 測(cè)量（Ron、BV、泄漏、Vth、Vsat 等）

* 窄 IV 脈寬（低至 10 μs），以防止器件自熱，并測(cè)量器件真實(shí)性能

* 示波器視圖（時(shí)域視圖）提供實(shí)際電壓/電流脈沖波形監(jiān)測(cè)，以確保精準(zhǔn)測(cè)量

* 可擴(kuò)展配置，支持添加 CV 和 Qg 功能，以及擴(kuò)展電流范圍由 20A 升至 500 A 或 1500 A

完整套件特性

* 全部 IV 套件特性

* 高達(dá) 3 kV 的封裝器件晶體管輸入、輸出和反向轉(zhuǎn)移電容（Ciss、Coss、Crss、Cies、Coes、Cres）和柵極電阻（Rg）測(cè)量功能

* 封裝器件柵極電荷（Qg）曲線測(cè)量

* 功率損耗計(jì)算（傳導(dǎo)、驅(qū)動(dòng)和切換損耗）

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