【儀表網 儀表會議】2022年10月14日，中國電子技術標準化研究院組織召開了IEC TC47/SC47E、SC47F兩項國際標準提案的立項論證評審會。國家市場監(jiān)督管理總局標準創(chuàng)新管理司IEC聯(lián)絡處徐全平副處長出席會議并致辭，來自MEMS器件和光電器件等半導體領域的十余位專家代表參加了會議，會議由中國電子技術標準化研究院張玉芹主任主持。
徐全平副處長在致辭中表示，半導體器件是支撐信息技術產業(yè)發(fā)展的基石，兩項新提案的提出體現(xiàn)了我國半導體器件蓬勃發(fā)展的態(tài)勢和主動貢獻中國智慧的大國擔當，后續(xù)應繼續(xù)加強培養(yǎng)復合型標準化人才，針對產業(yè)痛點提出具有先導性、獨創(chuàng)性的國際提案，持續(xù)推動我國半導體產業(yè)高質量發(fā)展。
本次會議成立了由中國科學院空天信息創(chuàng)新研究院、中國計量科學研究院、京津冀國家技術創(chuàng)新中心、北京航天控制儀器研究所、浙江大學、上海芯物科技有限公司、北京智慧共享技術服務有限公司等單位的專家組成的評審組，來自北京大學和之江實驗室的提案負責人就MEMS麥克風和CMOS成像氣體傳感器2項國際標準提案匯報了立項背景、目的意義以及標準主要技術內容，評審專家對提案論證報告、標準草案等內容進行了質詢和討論，一致同意提案立項申報，并給出了修改完善建議。
近年來，我國在半導體器件領域國際標準化工作節(jié)節(jié)攀升，電子標準院和中國電科十三所等國內相關技術對口單位將繼續(xù)認真履行職責、主動擔當，持續(xù)提升我國在國際標準化領域的影響力和話語權。
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