深圳市富溫傳感技術(shù)有限公司
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更新時(shí)間:2023-09-26 09:21:06瀏覽次數(shù):293次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)芯片NTC熱敏電阻
產(chǎn)品描述:
FWLP系列芯片熱敏電阻俗稱裸片NTC,該裸片采用*的高溫固相工藝制作,粉體制備、高溫?zé)Y(jié)、切片劃片、電極制備、分析測(cè)試等都通過國(guó)內(nèi)的高性能設(shè)備,芯片表面鍍金或鍍銀處理的耐高溫高精度芯片,具有良好的耐熱循環(huán)能力、性能穩(wěn)定等特點(diǎn),NTC裸片使用溫度范圍為:-50度至300度。NTC芯片引線焊接工藝可用:插片浸錫、電子壓焊、人工焊接、藍(lán)膜包裝NTC芯片綁定。
產(chǎn)品尺寸圖:
電氣性能:
未封裝前熱敏電阻芯片應(yīng)滿足:R25℃=99KΩ~101KΩ
NTC芯片B值:B25/50=3910K~3989K
熱敏電阻裸片焊接變化率(250℃/1Sс.)≤0.3%
熱循環(huán)沖擊試驗(yàn):將環(huán)氧封熱敏電阻放置于-30℃的油槽中5min←→90℃的油槽中5 min,循環(huán)1000次后的電性能(R25)的變化率小于±1%。
高溫老化試驗(yàn):將環(huán)氧封NTC熱敏電阻放置于120℃±3℃的烘箱中老化999小時(shí),老化后的電性能(R25)的變化率小于±1%。
低溫老化試驗(yàn):將環(huán)氧封熱敏電阻放置于-30℃±5℃的油槽中老化999小時(shí),老化后的電性能(R25)的變化率小于±1%。
5V直流電下高溫老化試驗(yàn):將環(huán)氧封熱敏電阻在120℃±5℃的環(huán)境條件中通5V直流電老化999小時(shí)后,其電性能(R25)的變化率小于±1%。
應(yīng)用范圍:
漆包線熱敏電阻、小皮線熱敏電阻、薄膜熱敏電阻
裸片工藝溫度傳感器、綁定場(chǎng)合用芯片NTC
環(huán)氧樹脂封裝熱敏電阻、 混合設(shè)計(jì)多功能模塊
IGBT、熱電堆陳列模組、熱電堆感測(cè)器,光電通信、半導(dǎo)體激光器/探測(cè)器
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