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離子遷移實驗裝置（CAF） 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試（1 ～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻...

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J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

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