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在電子科技飛速發(fā)展的當(dāng)下，電子產(chǎn)品應(yīng)用場(chǎng)景日益復(fù)雜，從高溫密閉的服務(wù)器機(jī)房到極寒的戶外電子設(shè)備，對(duì)芯片、電路板等核心部件的可靠性提出了嚴(yán)苛要求。近日，某電子科技企業(yè)完成新型冷熱沖擊試驗(yàn)箱的交付使用，為產(chǎn)品可靠性測(cè)試帶來(lái)重大升級(jí)，進(jìn)一步夯實(shí)了企業(yè)在行業(yè)內(nèi)的技術(shù)競(jìng)爭(zhēng)力。

在芯片可靠性測(cè)試方面，該試驗(yàn)箱展現(xiàn)出強(qiáng)大的功能。企業(yè)研發(fā)團(tuán)隊(duì)將新型處理器芯片置于試驗(yàn)箱內(nèi)，進(jìn)行連續(xù) 72 小時(shí)的冷熱循環(huán)測(cè)試。在測(cè)試過(guò)程中，芯片經(jīng)歷從 - 40℃的低溫環(huán)境到 85℃高溫環(huán)境的反復(fù)切換，同時(shí)保持滿負(fù)荷運(yùn)行狀態(tài)。通過(guò)監(jiān)測(cè)芯片的運(yùn)算速度、功耗、信號(hào)傳輸穩(wěn)定性等參數(shù)，發(fā)現(xiàn)芯片在高溫環(huán)境下存在晶體管漏電率上升的問(wèn)題。基于試驗(yàn)箱反饋的數(shù)據(jù)，研發(fā)團(tuán)隊(duì)對(duì)芯片的散熱結(jié)構(gòu)和電路設(shè)計(jì)進(jìn)行優(yōu)化，改進(jìn)后的芯片在相同測(cè)試條件下，性能穩(wěn)定性提升了 25%，有效延長(zhǎng)了使用壽命。